测试流程制定
6）再次同步测量环境中太阳辐照度、组件温度及环境气温，确保在IV特性曲线测量期间，辐照度和温度并未发生突变；
7）根据测量数据，计算IV特性曲线上大功率点，填充系数等特征参数，将所有数据打包，存储于SD卡内，本次IV特性曲线扫描结束。
当1组数据测量完成，平台可根据用户设定，控制光伏组件工作于开路、短路或大功率等状态，直到下1次测量开始，可检测光伏组件长期处于特定状态工作性能。
为避免环境辐照度或温度变化对所测IV特性曲线的影响，使所测曲线更加光滑，废旧物资回收公司，能否快速的扫描IV特性曲线至关重要。
在上述测量流程中，AD转换器对光伏组件IV特性曲线上每个点同步测量时间约80μs，测量一组IV特性曲线数据需用时约22ms，一般而言，该测量时间内几乎不会出现环境辐照度或温度突变的状况。
在所测数据存入SD卡之后，DSP同时将测量数据封装为UDP包，通过以太网模块，经由测试平台路由器，凉山回收，发送至上位机，上位机在接收到每个UDP包后，都给予接收应答。
基于VB.NET编程技术，设计了上位机监控程序，它与DSP通信，并将数据存储于S数据库内，便于用户对组件户外长期工作性能分析和评估。
户外测试平台设计方案
2.1 光伏组件户外性能测试要求
光伏组件输出特性主要受太阳辐照度及环境温度的影响。
当光伏组件工作于户外特定环境时，需测量环境辐照度及组件温度。
传统的IV特性曲线测量方法是使可编程电子负载工作于恒压或者恒流工作模式，电子垃圾回收厂家，以固定步长扫描，由于光伏组件IV 特性曲线具有类似半导体二极管的对数曲线形状，当光伏组件工作于恒流段或恒压段时，仅利用恒流或恒压工作模式的电子负载测量将造成曲线相应部分的测量点稀少。
此外，为测试光伏组件户外性能，还需根据用户设定，保持被测光伏组件长期工作于开路、短路或大功率等工作状态，电子回收公司，因此不可使用传统的现场电容充电或电子负载瞬时测量IV特性曲线的方法。
芯片的背部减薄制程
磊晶之后的蓝宝石基板就成为了外延片，外延片在经过蚀刻、蒸镀、电极制作、保护层制作等一系列复杂的半导体制程之后，还需要切割成一粒粒的芯片，根据芯片的大小，一片2英寸的外延片可以切割成为数千至上万个CHIP。
前文讲到此时外延片的厚度在430um附近，由于蓝宝石的硬度以及脆性，普通切割工艺难以对其进行加工。
目前普遍的工艺是将外延片从430um减薄至100um附近，然后再使用镭射进行切割。
